Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2018, том 88, выпуск 7, страницы 1110–1115
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2018.07.46189.2572 (Mi jtf5882) 		 
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)

Физические приборы и методы эксперимента

Применение ИК микроскопии для прецизионного контроля диффузионных профилей распределения примесей железа и хрома в халькогенидах цинка

Т. В. Котерева, В. Б. Иконников, Е. М. Гаврищук, А. М. Потапов, Д. В. Савин

Институт химии высокочистых веществ РАН им. Г. Г. Девятых, г. Нижний Новгород
PDF полного текста (292 kB) Список цитирования (6)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2018.07.46189.2572
Аннотация: Предложена методика для прецизионного, экспрессного и неразрушающего контроля поведения допанта в лазерных средах на основе халькогенидов цинка. Полученные результаты показывают возможность определения методом ИК спектроскопии в сочетании с ИК микроскопом концентрационных профилей допанта в виде ионов Fe$^{2+}$ и Cr$^{2+}$ в халькогенидах цинка в интервале концентраций от 5 $\cdot$ 10$^{17}$ до 2.5 $\cdot$ 10$^{20}$ at/сm$^{3}$ с пространственным разрешением до нескольких микрометров. Определены диффузионные профили при солегировании халькогенидов цинка несколькими примесями одновременно.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 15-43-02312 р_поволжье_а
Министерство образования и науки Российской Федерации 0095-2016-0015
Работа выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант 15-43-02312 р_поволжье_а), в части изготовления и исследования образцов халькогенидов цинка, легированных железом, и по теме Государственного задания № 0095-2016-0015 в части изготовления и исследования образцов халькогенидов цинка, легированных хромом.
Поступила в редакцию: 22.11.2017
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2018, Volume 63, Issue 7, Pages 1079–1083
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784218070204
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Т. В. Котерева, В. Б. Иконников, Е. М. Гаврищук, А. М. Потапов, Д. В. Савин, “Применение ИК микроскопии для прецизионного контроля диффузионных профилей распределения примесей железа и хрома в халькогенидах цинка”, ЖТФ, 88:7 (2018), 1110–1115; Tech. Phys., 63:7 (2018), 1079–1083
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KotIkoGav18}
\by Т.~В.~Котерева, В.~Б.~Иконников, Е.~М.~Гаврищук, А.~М.~Потапов, Д.~В.~Савин
\paper Применение ИК микроскопии для прецизионного контроля диффузионных профилей распределения примесей железа и хрома в халькогенидах цинка
\jour ЖТФ
\yr 2018
\vol 88
\issue 7
\pages 1110--1115
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5882}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2018.07.46189.2572}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=35269848}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2018
\vol 63
\issue 7
\pages 1079--1083
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784218070204}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5882
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v88/i7/p1110
    • Эта публикация цитируется в следующих 6 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:45
    PDF полного текста:9
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024