Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2019, том 89, выпуск 3, страницы 456–459
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2019.03.47185.243-18 (Mi jtf5678) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физическая электроника

Определение толщин и визуализация ионообменных волноводов в стеклах методом растровой электронной микроскопии

А. И. Лихачев, А. Н. Нащекин, Р. В. Соколов, С. Г. Конников

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
PDF полного текста (447 kB) Список цитирования (1)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2019.03.47185.243-18
Аннотация: Методами растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа показано формирование в стеклах марки К8 в результате ионного обмена приповерхностного слоя с градиентом концентрации серебра и натрия. В режиме вторичных электронов визуализированы слои, обогащенные ионами серебра, с различной толщиной в зависимости от времени проведения ионного обмена из расплава серебра. Данные по толщине слоя, обогащенного серебром, измеренные методом РЭМ, хорошо коррелируют с расчетом, полученным из уравнения диффузии для серебра в стекле. Используя картирование элементного состава по поперечному сечению стекла, показана зависимость концентрации серебра от глубины диффузии. Присутствие слоя с градиентом концентрации серебра приводит к формированию градиентного волновода. Обнаружены дискретные пики на профилях концентрации серебра, обусловленные особенностями взаимной диффузии ионов натрия и серебра в стеклах.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации RFMEFI62117X0018
Электронно-микроскопические исследования выполнены с использованием оборудования федерального ЦКП “Материаловедение и диагностика в передовых технологиях”, поддержанного Минобрнауки России (Уникальный идентификатор проекта RFMEFI62117X0018).
Поступила в редакцию: 18.06.2018
Исправленный вариант: 21.09.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2019, Volume 64, Issue 3, Pages 418–421
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784219030174
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. И. Лихачев, А. Н. Нащекин, Р. В. Соколов, С. Г. Конников, “Определение толщин и визуализация ионообменных волноводов в стеклах методом растровой электронной микроскопии”, ЖТФ, 89:3 (2019), 456–459; Tech. Phys., 64:3 (2019), 418–421
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{LihNasSok19}
\by А.~И.~Лихачев, А.~Н.~Нащекин, Р.~В.~Соколов, С.~Г.~Конников
\paper Определение толщин и визуализация ионообменных волноводов в стеклах методом растровой электронной микроскопии
\jour ЖТФ
\yr 2019
\vol 89
\issue 3
\pages 456--459
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5678}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2019.03.47185.243-18}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37643900}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2019
\vol 64
\issue 3
\pages 418--421
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784219030174}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5678
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v89/i3/p456
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:62
    PDF полного текста:26
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024