Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2019, том 89, выпуск 3, страницы 444–451
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2019.03.47183.153-18
(Mi jtf5676)
 

Радиофизика

Исследования воздействия радиочастотного и ионизирующего излучений на микроконтроллер ATmega8515

А. П. Степовик, Е. Ю. Шамаев, В. В. Отставнов

Российский федеральный ядерный центр — Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. академика Е. И. Забабахина, г. Снежинск Челябинской обл.
Аннотация: Представлены результаты исследований действия сверхширокополосного и тормозного излучений на сложно-функциональное устройство типа ATmega8515 в радиопрозрачном корпусе. Показано, что реакция микроконтроллера на облучение в обоих случаях близкая: реализуется кратковременный сбой в работе или зависание. Реализация эффектов зависит от момента действия излучений относительно фазы генерируемого микроконтроллером меандра. В то же время результат облучения тормозным излучением зависит и от экспозиционной дозы, что может приводить как к уширению генерируемой фазы сигнала, так и к зависанию устройства.
Поступила в редакцию: 02.03.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2019, Volume 64, Issue 3, Pages 407–413
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378421903023X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. П. Степовик, Е. Ю. Шамаев, В. В. Отставнов, “Исследования воздействия радиочастотного и ионизирующего излучений на микроконтроллер ATmega8515”, ЖТФ, 89:3 (2019), 444–451; Tech. Phys., 64:3 (2019), 407–413
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SteShaOts19}
\by А.~П.~Степовик, Е.~Ю.~Шамаев, В.~В.~Отставнов
\paper Исследования воздействия радиочастотного и ионизирующего излучений на микроконтроллер ATmega8515
\jour ЖТФ
\yr 2019
\vol 89
\issue 3
\pages 444--451
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5676}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2019.03.47183.153-18}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37643898}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2019
\vol 64
\issue 3
\pages 407--413
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378421903023X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5676
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v89/i3/p444
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:44
    PDF полного текста:14
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024