Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2019, том 89, выпуск 6, страницы 907–911
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2019.06.47639.298-18
(Mi jtf5595)
 

Физическое материаловедение

Субструктура интерметаллического соединения Cu$_{3}$Sn в тонкопленочном состоянии

А. Н. Макрушина, В. А. Плотников, Б. Ф. Демьянов, С. В. Макаров

Алтайский государственный университет, г. Барнаул
Аннотация: Исследована субструктура кристалла итерметаллического соединения Cu$_{3}$Sn, синтезированного в ходе последовательной конденсации тонких слоев меди и олова на подложку при температуре 150$^\circ$C. Соединение Cu$_{3}$Sn существует в очень узкой области гомогенности и имеет длиннопериодическую плотноупакованную упорядоченную сверхструктуру, тип сверхструктуры был определен как D0$_{19}$. Установлено, что кристалл содержит большое количество следов сдвига решетки, являющихся результатом движения дислокаций, что обусловлено напряженным состоянием кристалла, которое можно охарактеризовать, как всестороннее растяжение. Путем анализа электронно-микроскопического изображения установлено, что следы сдвига в кристалле Cu$_{3}$Sn параллельны плоскостям ($\bar{11}$21) и (11$\bar{2}$1), относящимся к пирамидальной системе скольжения II-го типа и принадлежащим к одной из основных систем скольжения наряду с базисной и призматической плоскостями. Следы скольжения возникли в результате движения частичных дислокаций, о чем свидетельствует величина сдвига, равная половине межплоскостного расстояния. Так как кристалл упорядочен, скольжение осуществляется парой сверхчастичных дислокаций, а данный след скольжения может быть сверхструктурным или комплексным дефектом упаковки.
Поступила в редакцию: 01.08.2018
Исправленный вариант: 01.08.2018
Принята в печать: 01.12.2018
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2019, Volume 64, Issue 6, Pages 853–857
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784219060112
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. Н. Макрушина, В. А. Плотников, Б. Ф. Демьянов, С. В. Макаров, “Субструктура интерметаллического соединения Cu$_{3}$Sn в тонкопленочном состоянии”, ЖТФ, 89:6 (2019), 907–911; Tech. Phys., 64:6 (2019), 853–857
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MokPloDem19}
\by А.~Н.~Макрушина, В.~А.~Плотников, Б.~Ф.~Демьянов, С.~В.~Макаров
\paper Субструктура интерметаллического соединения Cu$_{3}$Sn в тонкопленочном состоянии
\jour ЖТФ
\yr 2019
\vol 89
\issue 6
\pages 907--911
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5595}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2019.06.47639.298-18}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=39133838}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2019
\vol 64
\issue 6
\pages 853--857
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784219060112}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5595
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v89/i6/p907
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:33
    PDF полного текста:14
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024