Аннотация:
Миниатюризация устройств магнитной электроники и микросистемной техники во многом зависит от оптимального выбора функциональных материалов (сред), используемых в качестве рабочего тела, в частности, чувствительных элементов различных сенсорных систем (например, датчиков локальных магнитных полей, механических напряжений и/или деформаций, температуры и т. п.). Одним из перспективных материалов являются ферромагнитные микропровода, состоящие из жилы аморфных сплавов в стеклянной оболочке, проявляющие высокую чувствительность магнитоимпеданса (МИ) к изменению указанных внешних факторов – эффект гигантского МИ (ГМИ). При этом для множества приложений важным является температурная стабильность рабочей характеристики таких устройств.
Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки Российской Федерации в рамках программы повышения конкурентоспособности НИТУ “МИСиС”, осуществляемой постановлением правительства от 16 марта 2013 г. № 211.
Поступила в редакцию: 29.11.2018 Исправленный вариант: 29.11.2018 Принята в печать: 29.01.2019
Образец цитирования:
А. Джумъазода, Л. В. Панина, М. Г. Неъматов, Н. А. Юданов, Ф. С. Табаров, А. Т. Морченко, А. А. Ухасов, “Влияние токового отжига на температурные зависимости магнитоимпеданса в аморфных микропроводах”, ЖТФ, 89:7 (2019), 1050–1054; Tech. Phys., 64:7 (2019), 990–993