Влияние токового отжига на температурные зависимости магнитоимпеданса в аморфных микропроводах

Миниатюризация устройств магнитной электроники и микросистемной техники во многом зависит от оптимального выбора функциональных материалов (сред), используемых в качестве рабочего тела, в частности, чувствительных элементов различных сенсорных систем (например, датчиков локальных магнитных полей, механических напряжений и/или деформаций, температуры и т. п.). Одним из перспективных материалов являются ферромагнитные микропровода, состоящие из жилы аморфных сплавов в стеклянной оболочке, проявляющие высокую чувствительность магнитоимпеданса (МИ) к изменению указанных внешних факторов – эффект гигантского МИ (ГМИ). При этом для множества приложений важным является температурная стабильность рабочей характеристики таких устройств.