|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
XXIII Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 11-14 марта 2019 г.
Модификация поверхностных свойств эпитаксиальных слоев PbSnTe$\langle$In$\rangle$ с составом вблизи инверсии зон
А. С. Тарасов, Д. В. Ищенко, А. Н. Акимов, И. О. Ахундов, В. А. Голяшов, А. Э. Климов, Н. С. Пащин, С. П. Супрун, Е. В. Федосенко, В. Н. Шерстякова, О. Е. Терещенко Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
Аннотация:
Приведены результаты изучения выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии высокоомных слоев
Pb$_{1-x}$Sn$_{x}$Te$\langle$In$\rangle$ на подложках BaF$_{2}$ (111) с составами, близкими к инверсии зон. Проведены исследования вольт-амперных характеристик и релаксационных зависимостей фототока структур в зависимости от химической обработки поверхности и последующей экспозиции образцов на воздухе. Обнаружена существенная трансформация наблюдаемых характеристик от физико-химического состояния поверхности. Установлено, что химическая обработка поверхности в растворе соляной кислоты в изопропиловом спирте приводит к увеличению тока до 10$^{4}$ раз с последующим восстановлением вольт-амперных характеристик при экспозиции образцов на воздухе в течение нескольких суток.
Ключевые слова:
обработка поверхности, PbSnTe$\langle$In$\rangle$, поверхность, твердый раствор, эпитаксиальные пленки.
Поступила в редакцию: 28.03.2019 Исправленный вариант: 28.03.2019 Принята в печать: 15.04.2019
Образец цитирования:
А. С. Тарасов, Д. В. Ищенко, А. Н. Акимов, И. О. Ахундов, В. А. Голяшов, А. Э. Климов, Н. С. Пащин, С. П. Супрун, Е. В. Федосенко, В. Н. Шерстякова, О. Е. Терещенко, “Модификация поверхностных свойств эпитаксиальных слоев PbSnTe$\langle$In$\rangle$ с составом вблизи инверсии зон”, ЖТФ, 89:11 (2019), 1795–1799; Tech. Phys., 64:11 (2019), 1704–1708
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf5477 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v89/i11/p1795
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 79 | PDF полного текста: | 21 |
|