Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2020, том 90, выпуск 3, страницы 471–477
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.03.48934.90-19
(Mi jtf5366)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Электрофизика, электронные и ионные пучки, физика ускорителей

Диагностика пучков заряженных частиц методом фазовых диаграмм

В. В. Лукашевич

Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
Аннотация: Для определения качества фокусировки заряженных частиц в ионно-оптических устройствах предложено использовать метод фазовых диаграмм. Фазовые диаграммы с нелинейными контурами указывают на нелинейность фокусировки пучка частиц, причем наглядно наблюдается величина апертуры, при которой появляется и усиливается нелинейность. Это открывает возможность проектирования линейно фокусирующих линз или корректоров аберраций, компенсирующих нелинейности оптики.
Ключевые слова: ионная оптика, эмиттанс, линзы, фазовая диаграмма, аберрации.
Поступила в редакцию: 11.03.2019
Исправленный вариант: 19.09.2019
Принята в печать: 19.09.2019
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2020, Volume 65, Issue 3, Pages 450–456
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784220030135
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. В. Лукашевич, “Диагностика пучков заряженных частиц методом фазовых диаграмм”, ЖТФ, 90:3 (2020), 471–477; Tech. Phys., 65:3 (2020), 450–456
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Luk20}
\by В.~В.~Лукашевич
\paper Диагностика пучков заряженных частиц методом фазовых диаграмм
\jour ЖТФ
\yr 2020
\vol 90
\issue 3
\pages 471--477
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5366}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2020.03.48934.90-19}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=42747723}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2020
\vol 65
\issue 3
\pages 450--456
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784220030135}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5366
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i3/p471
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:41
    PDF полного текста:29
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024