Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2020, том 90, выпуск 7, страницы 1095–1102
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.07.49442.242-19 (Mi jtf5252) 		 
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Твердое тело

Исследование внутренних напряжений в несущей ленте-подложке из нержавеющей стали AISI 310S для ВТСП проводов второго поколения методом нейтронной стресс-дифрактометрии

И. Д. Карпов, А. В. Иродова, В. С. Круглов, С. В. Шавкин, В. Т. Эм

Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", г. Москва
PDF полного текста (1783 kB) Список цитирования (3)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.07.49442.242-19
Аннотация: Методом нейтронной стресс-дифрактометрии изучено распределение внутренних (остаточных) напряжений в ленте из нержавеющей стали AISI 310S толщиной 100 $\mu$m и шириной 4 mm в трех направлениях – вдоль, поперек и перпендикулярно плоскости прокатки. Определены усредненные по длине ленты на участке 40 cm величины остаточных макронапряжений. Обнаруженное распределение макронапряжений, сжимающих ленту на одном краю и растягивающих на другом, свойственно так называемой серповидной деформации ленты – ее изгибу в плоскости прокатки вдоль направления прокатки. Наблюдена корреляция между величиной макронапряжений и наличием внутренних микронапряжений – чем сильнее макронапряжения, тем выше концентрация микронапряжений.
Ключевые слова: остаточные напряжения, тонкая лента AISI 310S, нейтронная стресс-дифрактометрия.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 14.604.21.0197
Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в рамках соглашения № 14.604.21.0197 о предоставлении субсидии (уникальный идентификатор прикладных научных исследований RFMEFI60417X0197). В работе использовалось оборудование уникальной научной установки “Нейтронный исследовательский комплекс на базе реактора ИР-8”.
Поступила в редакцию: 14.06.2019
Исправленный вариант: 14.01.2020
Принята в печать: 30.01.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2020, Volume 65, Issue 7, Pages 1051–1057
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784220070063
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: И. Д. Карпов, А. В. Иродова, В. С. Круглов, С. В. Шавкин, В. Т. Эм, “Исследование внутренних напряжений в несущей ленте-подложке из нержавеющей стали AISI 310S для ВТСП проводов второго поколения методом нейтронной стресс-дифрактометрии”, ЖТФ, 90:7 (2020), 1095–1102; Tech. Phys., 65:7 (2020), 1051–1057
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KarIroKru20}
\by И.~Д.~Карпов, А.~В.~Иродова, В.~С.~Круглов, С.~В.~Шавкин, В.~Т.~Эм
\paper Исследование внутренних напряжений в несущей ленте-подложке из нержавеющей стали AISI 310S для ВТСП проводов второго поколения методом нейтронной стресс-дифрактометрии
\jour ЖТФ
\yr 2020
\vol 90
\issue 7
\pages 1095--1102
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5252}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2020.07.49442.242-19}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43800617}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2020
\vol 65
\issue 7
\pages 1051--1057
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784220070063}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5252
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i7/p1095
    • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:60
    PDF полного текста:28
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024