|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Физическая электроника
Сканирующая туннельная микроскопия поверхности нанопленок иттербия и адсорбированных на ней слоев молекул кислорода
М. В. Кузьмин, М. А. Митцев Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
С помощью сканирующей туннельной микроскопии впервые исследованы поверхности структур Yb–Si(111) и O–Yb–Si(111) (толщина нанопленок иттербия в них составляет 16 монослоев (6.08 nm) ) и получены сведения о морфологии и фазовом составе этих поверхностей. Установлено, что до адсорбции кислорода нанопленки имеют высокую степень однородности по толщине, растут по механизму, очень близкому к послойном, и имеют однородную кристаллическую структуру. После адсорбции кислорода образуется островковый слой молекул кислорода, высота которого составляет 0.112 nm. Показано, что морфология нанопленки на тех участках ее поверхности, которые покрыты мономолекулярной пленкой кислорода, существенно изменяется. В то же время морфология участков поверхности, незанятых адсорбированным слоем, остается неизменной.
Ключевые слова:
нанопленки, адсорбированные молекулы, поверхность, морфология, сканирующая туннельная микроскопия.
Поступила в редакцию: 11.03.2020 Исправленный вариант: 11.03.2020 Принята в печать: 12.03.2020
Образец цитирования:
М. В. Кузьмин, М. А. Митцев, “Сканирующая туннельная микроскопия поверхности нанопленок иттербия и адсорбированных на ней слоев молекул кислорода”, ЖТФ, 90:8 (2020), 1359–1365; Tech. Phys., 65:8 (2020), 1307–1312
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf5239 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i8/p1359
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 50 | PDF полного текста: | 24 |
|