Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2020, том 90, выпуск 8, страницы 1359–1365
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.08.49548.81-20
(Mi jtf5239)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Физическая электроника

Сканирующая туннельная микроскопия поверхности нанопленок иттербия и адсорбированных на ней слоев молекул кислорода

М. В. Кузьмин, М. А. Митцев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: С помощью сканирующей туннельной микроскопии впервые исследованы поверхности структур Yb–Si(111) и O–Yb–Si(111) (толщина нанопленок иттербия в них составляет 16 монослоев (6.08 nm) ) и получены сведения о морфологии и фазовом составе этих поверхностей. Установлено, что до адсорбции кислорода нанопленки имеют высокую степень однородности по толщине, растут по механизму, очень близкому к послойном, и имеют однородную кристаллическую структуру. После адсорбции кислорода образуется островковый слой молекул кислорода, высота которого составляет 0.112 nm. Показано, что морфология нанопленки на тех участках ее поверхности, которые покрыты мономолекулярной пленкой кислорода, существенно изменяется. В то же время морфология участков поверхности, незанятых адсорбированным слоем, остается неизменной.
Ключевые слова: нанопленки, адсорбированные молекулы, поверхность, морфология, сканирующая туннельная микроскопия.
Поступила в редакцию: 11.03.2020
Исправленный вариант: 11.03.2020
Принята в печать: 12.03.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2020, Volume 65, Issue 8, Pages 1307–1312
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784220080125
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. В. Кузьмин, М. А. Митцев, “Сканирующая туннельная микроскопия поверхности нанопленок иттербия и адсорбированных на ней слоев молекул кислорода”, ЖТФ, 90:8 (2020), 1359–1365; Tech. Phys., 65:8 (2020), 1307–1312
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KuzMit20}
\by М.~В.~Кузьмин, М.~А.~Митцев
\paper Сканирующая туннельная микроскопия поверхности нанопленок иттербия и адсорбированных на ней слоев молекул кислорода
\jour ЖТФ
\yr 2020
\vol 90
\issue 8
\pages 1359--1365
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5239}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2020.08.49548.81-20}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43870265}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2020
\vol 65
\issue 8
\pages 1307--1312
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784220080125}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5239
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i8/p1359
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:50
    PDF полного текста:24
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024