Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 1986, том 56, выпуск 2, страницы 317–323 (Mi jtf52)  

Квантовая электроника

О чувствительности голографического метода острой фокусировки

И. С. Зейликович, Е. M. Платонов

Гродненский государственный университет
Аннотация: Рассмотрен способ голографической регистрации объектных волн в устройствах острой фокусировки с когерентным источником света. Применение голографических методов накопления чувствительности в таких устройствах позволяет оптимизировать фокусирующую систему, улучшить ее характеристики и значительно повысить чувствительность теневых измерений. Получены экспериментальные результаты, подтверждающие накопление чувствительности при теневой регистрации прозрачных неоднородностей методом острой фокусировки.
Поступила в редакцию: 23.11.1984
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 335.317.1
Образец цитирования: И. С. Зейликович, Е. M. Платонов, “О чувствительности голографического метода острой фокусировки”, ЖТФ, 56:2 (1986), 317–323
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ZelPla86}
\by И.~С.~Зейликович, Е.~M.~Платонов
\paper О чувствительности голографического метода острой фокусировки
\jour ЖТФ
\yr 1986
\vol 56
\issue 2
\pages 317--323
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf52}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf52
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v56/i2/p317
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:46
    PDF полного текста:36
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024