Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2020, том 90, выпуск 11, страницы 1843–1849
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.11.49972.116-20
(Mi jtf5150)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Физическое материаловедение

Методы атомно-силовой микроскопии для исследования суперпротонных кристаллов

Р. В. Гайнутдинов, А. Л. Толстихина, Е. В. Селезнева, И. П. Макарова

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
Аннотация: Проведены комплексные исследования новых кристаллов-суперпротоников – кислых солей сульфата калия-аммония (K$_{1-x}$(NH$_4$)$_{x}$)$_{3}$H(SO$_4$)$_{2}$, $x\ge$ 0.57. Методами атомно-силовой микроскопии получены данные о морфологии поверхности, доменной структуре и проводимости образцов. Впервые стабильность и деградация поверхности суперпротонных кристаллов изучена на наноуровне. На основе данных микроскопии пьезоэлектрического отклика установлено, что при понижении температуры от 296 до 282 K кристалл (K$_{0.43}$(NH$_4$)$_{0.57}$)$_{3}$H(SO$_4$)$_{2}$ переходит из пара- в сегнетоэлектрическую фазу.
Ключевые слова: кристаллы-суперпротоники, пьезоэлектрический отклик, суперпротонный кристалл.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации RFMEFI62119X0035
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций 32
Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках выполнения работ по Государственному заданию ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН и частично при поддержке Программы фундаментальных исследований Президиума РАН 1.2.П № 32. Эксперименты проводились с использованием оборудования ЦКП ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” при поддержке Минобрнауки (проект RFMEFI62119X0035).
Поступила в редакцию: 03.04.2020
Исправленный вариант: 03.04.2020
Принята в печать: 03.04.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2020, Volume 65, Issue 11, Pages 1760–1766
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784220110092
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Р. В. Гайнутдинов, А. Л. Толстихина, Е. В. Селезнева, И. П. Макарова, “Методы атомно-силовой микроскопии для исследования суперпротонных кристаллов”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1843–1849; Tech. Phys., 65:11 (2020), 1760–1766
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GaiTolSel20}
\by Р.~В.~Гайнутдинов, А.~Л.~Толстихина, Е.~В.~Селезнева, И.~П.~Макарова
\paper Методы атомно-силовой микроскопии для исследования суперпротонных кристаллов
\jour ЖТФ
\yr 2020
\vol 90
\issue 11
\pages 1843--1849
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5150}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2020.11.49972.116-20}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44588710}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2020
\vol 65
\issue 11
\pages 1760--1766
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784220110092}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5150
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i11/p1843
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:57
    PDF полного текста:43
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024