Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2020, том 90, выпуск 11, страницы 1789–1796
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2020.11.49964.137-20
(Mi jtf5142)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

XXIV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Нижний Новгород, 10--13 марта 2020 г.
Теоретическая и математическая физика

Оптимизация анодной мембраны с прострельной мишенью в системе источников мягкого рентгеновского излучения для проведения процессов рентгеновской нанолитографии

П. Ю. Глаголевa, Г. Д. Деминa, Г. И. Орешкинa, Н. И. Чхалоb, Н. А. Дюжевa

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
b Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
Аннотация: Предложен способ оптимизации конструкции и состава анодной мембраны с прострельной мишенью в системе источников мягкого рентгеновского излучения на основе автоэмиссионных триодов, предназначенной для реализации задач в области рентгеновской нанолитографии. Данный способ позволяет предотвратить деградацию рабочих характеристик системы в случае возникновения сильной электростатической деформации анода под действием управляющего электрического поля в межэлектродном пространстве триодов. Для этой цели рассмотрено введение в конструкцию системы дополнительного управляющего электрода, позволяющего компенсировать деформацию анодной мембраны до приемлемого уровня и тем самым стабилизировать работу рентгеновских источников. Построена численная модель электростатического прогиба анодного узла в модифицированной конструкции, на основе которой определены оптимальный состав и геометрические параметры анодной мембраны с компенсирующим электродом. В частности, найдено оптимальное расстояние между анодной мембраной в начальном (недеформированном) состоянии и компенсирующим электродом (равное 5 $\mu$m), при котором к данным электродам следует приложить минимальную разницу напряжений (около 1.15 kV) для предотвращения критического прогиба мембраны (0.72 $\mu$m при радиусе мембраны 750 $\mu$m). Так же показано, что, в силу своей предельно высокой жесткости ($>$ 80 GPa), алмазоподобные пленки являются наиболее перспективным материалом для анодного электрода. Полученные результаты также могут быть полезны для разработки миниатюрных устройств генерации рентгеновского излучения для различных применений.
Ключевые слова: рентгеновская нанолитография, микрофокусная рентгеновская трубка, прострельная мишень, матрица анодных узлов, электростатическая деформация.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 075-15-2019-1139
Работа выполнена с использованием оборудования Центра коллективного пользования “Микросистемная техника и электронная компонентная база” Национального исследовательского университета “Московский институт электронной техники”, поддержанного Минобрнауки России, при финансовой поддержке Гранта президента РФ (№ 075-15-2019-1139).
Поступила в редакцию: 16.04.2020
Исправленный вариант: 16.04.2020
Принята в печать: 16.04.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2020, Volume 65, Issue 11, Pages 1709–1716
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784220110122
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: П. Ю. Глаголев, Г. Д. Демин, Г. И. Орешкин, Н. И. Чхало, Н. А. Дюжев, “Оптимизация анодной мембраны с прострельной мишенью в системе источников мягкого рентгеновского излучения для проведения процессов рентгеновской нанолитографии”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1789–1796; Tech. Phys., 65:11 (2020), 1709–1716
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GlaDemOre20}
\by П.~Ю.~Глаголев, Г.~Д.~Демин, Г.~И.~Орешкин, Н.~И.~Чхало, Н.~А.~Дюжев
\paper Оптимизация анодной мембраны с прострельной мишенью в системе источников мягкого рентгеновского излучения для проведения процессов рентгеновской нанолитографии
\jour ЖТФ
\yr 2020
\vol 90
\issue 11
\pages 1789--1796
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5142}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2020.11.49964.137-20}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44588701}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2020
\vol 65
\issue 11
\pages 1709--1716
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784220110122}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5142
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i11/p1789
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:54
    PDF полного текста:12
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024