|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Физическое материаловедение
Пластическая релаксация напряженного полуполярного AlN(10$\bar1$1) слоя, синтезированного на наноструктурированной Si(100) подложке
В. Н. Бессолов, Е. В. Коненкова, В. Н. Пантелеев Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Методом растровой электронной микроскопии изучалась пластическая релаксация напряженного полуполярного AlN(10$\bar1$1) слоя, синтезированного на наноструктурированной подложке Si(100). Показано, что в полуполярном AlN-слое применение нанорельефа, состоящего из треугольных наноканавок с наклонными гранями, близкими к плоскости Si(111), может приводить к формированию трещин только в направлении, перпендикулярном канавке. Модельные представления пластической релаксации напряженного полуполярного слоя основываются на сравнении величин порогового напряжения, выше которого возникают трещины, и термомеханических напряжений, возникающих из-за различия коэффициентов термического расширения AlN/Si-структуры.
Ключевые слова:
полуполярный нитрид алюминия, наноструктурированная подложка кремния, релаксация напряженного слоя.
Поступила в редакцию: 25.03.2020 Исправленный вариант: 15.06.2020 Принята в печать: 30.06.2020
Образец цитирования:
В. Н. Бессолов, Е. В. Коненкова, В. Н. Пантелеев, “Пластическая релаксация напряженного полуполярного AlN(10$\bar1$1) слоя, синтезированного на наноструктурированной Si(100) подложке”, ЖТФ, 90:12 (2020), 2123–2126; Tech. Phys., 65:12 (2020), 2031–2034
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf5134 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v90/i12/p2123
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 49 | PDF полного текста: | 13 |
|