Влияние плотности плазмы на степень подавления сигналов аналитов в ICP-MS

Рассмотрены возможные влияния ионизационных явлений на аналитический сигнал в методе масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с высокотемпературным источником ионов. Рассчитаны и экспериментально определены зависимости степени подавления ионных сигналов от концентрации электронов для ионов матричных и приместных элементов. Показано, что степень подавления сигналов достаточно сильно зависит от концентрации электронов в аналитической зоне в присутствии матричных элементов с различными по величине первыми потенциалами ионизации. На примере масс-спектрометра ICP-MS (Agilent Technologies) изучены влияния мощности индуктивной плазмы и скорости распылительного аргона на чувствительность масс-спектрометра. Результаты эксперимента показали, что причины подавления сигналов аналитов на выходе, по-видимому, связаны с ионно-электронной рекомбинацией ионов (как матричных, так и примесных) в области плазмы.