Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2021, том 91, выпуск 2, страницы 352–357
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2021.02.50372.187-20 (Mi jtf5090) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физическая электроника

Профильный анализ пленок ферритов-гранатов методом оптической эмиссионной спектроскопии тлеющего разряда

А. А. Федоренко, В. Н. Бержанский, А. В. Каравайников, А. Н. Шапошников, А. Р. Прокопов

Крымский федеральный университет имени В. И. Вернадского, г. Симферополь
PDF полного текста (1354 kB) Список цитирования (1)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2021.02.50372.187-20
Аннотация: Представлены результаты экспериментов по применению метода оптической эмиссионной спектроскопии тлеющего разряда для профильного анализа вакуумно-осажденных одно- и двуслойных пленок многокомпонентных ферритов-гранатов различного состава до и после кристаллизационного отжига. Выявлено наличие внутренних и внешних переходных слоев, и исследована модификация их элементного состава при кристаллизации и различной последовательности синтеза отдельных компонент в феррит-гранатовых гетероструктурах.
Ключевые слова: оптическая эмиссионная спектроскопия тлеющего разряда, профильный анализ, пленки ферритов-гранатов.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 19-72-20154
Исследование выполнено при поддержке гранта Российского научного фонда (проект № 19-72-20154).
Поступила в редакцию: 24.05.2020
Исправленный вариант: 19.08.2020
Принята в печать: 21.08.2020
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2021, Volume 66, Issue 2, Pages 343–348
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784221020110
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. А. Федоренко, В. Н. Бержанский, А. В. Каравайников, А. Н. Шапошников, А. Р. Прокопов, “Профильный анализ пленок ферритов-гранатов методом оптической эмиссионной спектроскопии тлеющего разряда”, ЖТФ, 91:2 (2021), 352–357; Tech. Phys., 66:2 (2021), 343–348
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{FedBerKar21}
\by А.~А.~Федоренко, В.~Н.~Бержанский, А.~В.~Каравайников, А.~Н.~Шапошников, А.~Р.~Прокопов
\paper Профильный анализ пленок ферритов-гранатов методом оптической эмиссионной спектроскопии тлеющего разряда
\jour ЖТФ
\yr 2021
\vol 91
\issue 2
\pages 352--357
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5090}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2021.02.50372.187-20}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44885103}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2021
\vol 66
\issue 2
\pages 343--348
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784221020110}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85102031040}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5090
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i2/p352
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024