|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Физическая электроника
Исследование ультратонких сверхпроводящих пленок нитрида ниобия, полученных методом атомно-слоевого осаждения
М. В. Шибалов, Н. В. Порохов, А. М. Мумляков, И. В. Трофимов, Г. Д. Дюдьбин, Е. Р. Тимофеева, А. М. Тагаченков, Ю. В. Ануфриев, Е. В. Зенова, М. А. Тархов Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, Москва, Россия
Аннотация:
Представлен способ осаждения ультратонких сверхпроводящих пленок NbN$_{x}$ методом атомно-слоевого осаждения, усиленного плазмой из металлорганического прекурсора и газовой смеси H$_{2}$/Ar, используемой в качестве реактанта. Полученные образцы характеризовались измерением удельного сопротивления, спектральной эллипсометрией, атомно-силовой микроскопией и измерениями сверхпроводящих характеристик. Определены оптимальные параметры соотношения газов H$_{2}$/Ar, при которых удельное сопротивление пленок NbN$_{x}$ минимально. Проведен сравнительный анализ удельного сопротивления полученных пленок NbN$_{x}$. Исследована зависимость температуры перехода в сверхпроводящее состояние от толщины пленки. Достигнута температура перехода в 13.7 K и критическая плотность тока 0.7 МА/сm$^{2}$. Высокая однородность пленки, прецизионный контроль толщины и температура осаждения 350$^\circ$C дают возможность использовать данные пленки в производстве полевых транзисторов и в функциональных устройствах различного назначения, например, болометрах на горячих электронах, детекторах на кинетической индуктивности и сверхпроводниковых однофотонных детекторах.
Ключевые слова:
атомно-слоевое осаждение, сверхпроводники, нитрид ниобия, температура перехода, критическая плотность тока.
Поступила в редакцию: 08.09.2020 Исправленный вариант: 19.10.2020 Принята в печать: 06.11.2020
Образец цитирования:
М. В. Шибалов, Н. В. Порохов, А. М. Мумляков, И. В. Трофимов, Г. Д. Дюдьбин, Е. Р. Тимофеева, А. М. Тагаченков, Ю. В. Ануфриев, Е. В. Зенова, М. А. Тархов, “Исследование ультратонких сверхпроводящих пленок нитрида ниобия, полученных методом атомно-слоевого осаждения”, ЖТФ, 91:4 (2021), 672–677; Tech. Phys., 66:5 (2021), 658–663
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf5044 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i4/p672
|
|