|
Фотоника
Определение толщин в карбидкремниевых структурах методом частотного анализа спектра отражения
М. Ф. Панов, М. В. Павлова Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»
Аннотация:
Разработана методика определения толщин после получения одно- и многослойных карбидкремниевых структур методом частотного анализа спектра инфракрасного отражения, на форму которого влияет спектральная интерференция в слоях и группах слоев. Анализ спектра выполнен в программном пакете LabView. Представлены результаты, полученные как для модельных структур, расчетный спектр отражения которых определялся с использованием диэлектрической функции, учитывавшей реакцию колебаний решетки и свободных носителей заряда, так и для экспериментальных спектров реальных многослойных структур приборов силовой электроники.
Ключевые слова:
слой, отражение, интерференция, спектр.
Поступила в редакцию: 22.09.2020 Исправленный вариант: 03.12.2020 Принята в печать: 07.12.2020
Образец цитирования:
М. Ф. Панов, М. В. Павлова, “Определение толщин в карбидкремниевых структурах методом частотного анализа спектра отражения”, ЖТФ, 91:5 (2021), 827–831; Tech. Phys., 66:6 (2021), 779–783
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf5020 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i5/p827
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 61 | PDF полного текста: | 32 |
|