Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Журнал технической физики, 2021, том 91, выпуск 10, страницы 1454–1465
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2021.10.51357.121-21
(Mi jtf4913)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

XXV Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника, Н. Новгород, 9--12 марта 2021 г.
Твердое тело

Особенности деформирования круглых тонкопленочных мембран и экспериментальное определение их эффективных характеристик

А. А. Дедковаa, П. Ю. Глаголевa, Е. Э. Гусевa, Н. А. Дюжевa, В. Ю. Киреевa, С. А. Лычевb, Д. А. Товарновa

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
b Институт проблем механики им. А. Ю. Ишлинского Российской академии наук, г. Москва
Аннотация: Рассмотрены особенности тонкопленочных мембран, сформированных над круглыми отверстиями в кремниевых подложках с помощью Бош-процесса травления. Из-за напряженного состояния исходных пленок мембраны имеют сложную форму. Для расчета механических характеристик мембраны посредством анализа зависимости прогиба мембраны $w$ от поданного на нее избыточного давления $P$ необходимо определение непосредственно на мембране: ее диаметра, толщин составляющих ее слоев, изменения рельефа поверхности мембраны по всей ее площади по мере увеличения давления $P$. На примере $p$-Si$^{*}$/SiN$_{x}$/SiO$_{2}$- и SiN$_{x}$/SiО$_{2}$/SiN$_{x}$/SiО$_{2}$-мембран показано определение диаметра мембраны и толщин составляющих слоев. Использованы методы спектральной эллипсометрии, рентгеновского энергодисперсионного микроанализа, оптической профилометрии и оптической микроскопии. Показано влияние особенностей условий закрепления мембран на их напряженно-деформированное состояние, проведена оценка посредством численного моделирования. Разработана методика измерений и расчета механических характеристик мембран, имеющих начальный прогиб. Результат расчета показан на примере мембраны с начальным прогибом 2 $\mu$m – SiN$_{x}$/SiО$_{2}$/SiN$_{x}$/SiО$_{2}$ и мембраны с начальным прогибом 30 $\mu$m – Al/SiO$_{2}$/Al.
Ключевые слова: тонкие пленки, мембрана, дефект, механические характеристики, механические напряжения, деформация, модуль Юнга, модуль упругости, прогиб, микроэлектромеханические системы, МЭМС, круглая мембрана, кремниевая подложка, оптическая профилометрия, избыточное давление.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 075-03-2020-216
0719-2020-0017
Работа выполнена с использованием оборудования ЦКП “Микросистемная техника и электронная компонентная база” (МИЭТ) при финансовой поддержке Минобрнауки России (№ 075-03-2020-216, 0719-2020-0017, мнемокод FSMR-2020-0017).
Поступила в редакцию: 26.04.2021
Исправленный вариант: 26.04.2021
Принята в печать: 26.04.2021
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. А. Дедкова, П. Ю. Глаголев, Е. Э. Гусев, Н. А. Дюжев, В. Ю. Киреев, С. А. Лычев, Д. А. Товарнов, “Особенности деформирования круглых тонкопленочных мембран и экспериментальное определение их эффективных характеристик”, ЖТФ, 91:10 (2021), 1454–1465
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DedGlaGus21}
\by А.~А.~Дедкова, П.~Ю.~Глаголев, Е.~Э.~Гусев, Н.~А.~Дюжев, В.~Ю.~Киреев, С.~А.~Лычев, Д.~А.~Товарнов
\paper Особенности деформирования круглых тонкопленочных мембран и экспериментальное определение их эффективных характеристик
\jour ЖТФ
\yr 2021
\vol 91
\issue 10
\pages 1454--1465
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf4913}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2021.10.51357.121-21}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46491198}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf4913
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i10/p1454
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024