Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2021, том 91, выпуск 11, страницы 1769–1773
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2021.11.51542.91-21 (Mi jtf4905) 		 
Физическая электроника

Влияние контактной разности потенциалов на вольт-амперные характеристики в сканирующей туннельной спектроскопии

М. В. Кузьмин, М. А. Митцев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
PDF полного текста (471 kB)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2021.11.51542.91-21
Аннотация: C помощью энергетических диаграмм асимметричных потенциальных барьеров, которые формируются при контакте двух металлов, обладающих различными работами выхода, рассмотрено влияние контактной разности потенциалов на вольт-амперные характеристики и спектры дифференциальной проводимости, получаемые с помощью сканирующей туннельной спектроскопии. Показано, что полученные выводы качественно согласуются с экспериментальными результатами для нанопленок иттербия толщиной 16 монослоев (6.08 nm). Однако количественно они существенно различаются. Проведен анализ этих различий.
Ключевые слова: поверхность, электронная структура, контактная разность потенциалов, энергетическая диаграмма, потенциальный барьер, сканирующая туннельная спектроскопия.
Поступила в редакцию: 01.04.2021
Исправленный вариант: 13.06.2021
Принята в печать: 16.06.2021
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2022, Volume 67, Issue 1, Pages 23–27
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784222010091
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: М. В. Кузьмин, М. А. Митцев, “Влияние контактной разности потенциалов на вольт-амперные характеристики в сканирующей туннельной спектроскопии”, ЖТФ, 91:11 (2021), 1769–1773; Tech. Phys., 67:1 (2022), 23–27
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KuzMit21}
\by М.~В.~Кузьмин, М.~А.~Митцев
\paper Влияние контактной разности потенциалов на вольт-амперные характеристики в сканирующей туннельной спектроскопии
\jour ЖТФ
\yr 2021
\vol 91
\issue 11
\pages 1769--1773
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf4905}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2021.11.51542.91-21}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46638341}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2022
\vol 67
\issue 1
\pages 23--27
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784222010091}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85128905771}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf4905
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i11/p1769
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:68
    PDF полного текста:28
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024