|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Физическая электроника
Моделирование ионного облучения кристаллических и аморфных мишеней – материалов первой стенки токамака-реактора
Д. С. Мелузова, П. Ю. Бабенко, А. Н. Зиновьев, А. П. Шергин Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Представлено обобщение результатов серии работ, посвященных моделированию различных процессов, происходящих при атомной бомбардировке кристаллических и аморфных твердых тел. С помощью оригинальных численных кодов рассчитаны коэффициенты отражения, линейные потери энергии и пробеги атомов в твердом теле, каналирование, а также коэффициенты распыления и их зависимости от угла падения бомбардирующей частицы для комбинаций Be–W и Ne–W. Исследовались мишени из Be-, W-, C-материалов, входящих в состав поверхностей, подвергающихся воздействию плазмы в различных токамаках. Особое внимание уделено комбинациям атом-мишень, по которым отсутствуют надежные экспериментальные данные. Показано значительное влияние используемого потенциала взаимодействия на результаты моделирования. Рассмотренные результаты объединены как общим предметом исследования – изучением процессов взаимодействия ионов плазмы с материалами первой стенки токамака-реактора, так и общим методом исследования – использованием разработанного для этой цели оригинального численного кода.
Ключевые слова:
рассеяние, ионное распыление, потенциал взаимодействия, энерговыделение.
Поступила в редакцию: 05.07.2021 Исправленный вариант: 20.08.2021 Принята в печать: 20.08.2021
Образец цитирования:
Д. С. Мелузова, П. Ю. Бабенко, А. Н. Зиновьев, А. П. Шергин, “Моделирование ионного облучения кристаллических и аморфных мишеней – материалов первой стенки токамака-реактора”, ЖТФ, 91:12 (2021), 2038–2044
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf4850 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i12/p2038
|
|