|
Фотоника
Исследование характеристик сверхрешетки InGaAs/InAlGaAs для вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 1300 nm
С. А. Блохинa, А. В. Бабичевb, А. Г. Гладышевb, Л. Я. Карачинскийabc, И. И. Новиковabc, А. А. Блохинa, М. А. Бобровa, Н. А. Малеевa, А. Г. Кузьменковd, А. М. Надточийe, В. Н. Неведомскийf, В. В. Андрюшкинb, С. С. Рочасb, Д. В. Денисовg, К. О. Воропаевh, И. О. Жумаеваh, В. М. Устиновd, А. Ю. Егоровc, В. Е. Бугровb a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
c ООО "Коннектор Оптикс", г. Санкт-Петербург
d Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, г. Санкт-Петербург
e Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики» (Санкт-Петербургский филиал)
f Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, ЦКП "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях", Санкт-Петербург, Россия
g Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
h АО "ОКБ-Планета", г. Великий Новгород
Аннотация:
Методами рентгеноструктурного анализа и спектроскопии фотолюминесценции проведены исследования выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии гетероструктур на основе сверхрешетки InGaAs/InAlGaAs для активных областей лазеров спектрального диапазона 1300 nm. Показано, что созданные гетероструктуры обладают высоким кристаллическим совершенством. Величина рассогласования средней постоянной кристаллической решетки сверхрешетки InGaAs/InAlGaAs относительно постоянной кристаллической решетки подложки InP оценена на уровне $\sim$+0.01%. Анализ спектров фотолюминесценции позволил сделать вывод о том, что в исследованном диапазоне уровней накачки вклад оже-рекомбинации несущественен. Исследования вертикально-излучающих лазеров с активной областью на основе сверхрешетки InGaAs/InAlGaAs позволили для стандартной логарифмической аппроксимации зависимости усиления от плотности тока накачки оценить параметр усиления на уровне 650 cm$^{-1}$. При умеренных температурах (20 – 60$^\circ$C) плотность тока прозрачности лазеров лежит в диапазоне 400 – 630 A/cm$^{2}$, что сопоставимо с опубликованными результатами для активных областей на основе InAlGaAs–InP КЯ и сильнонапряженных квантовых ям InGaAsN–GaAs спектрального диапазона 1300 nm.
Ключевые слова:
сверхрешетка, вертикально-излучающий лазер, оптическое усиление.
Поступила в редакцию: 19.08.2021 Исправленный вариант: 02.09.2021 Принята в печать: 03.09.2021
Образец цитирования:
С. А. Блохин, А. В. Бабичев, А. Г. Гладышев, Л. Я. Карачинский, И. И. Новиков, А. А. Блохин, М. А. Бобров, Н. А. Малеев, А. Г. Кузьменков, А. М. Надточий, В. Н. Неведомский, В. В. Андрюшкин, С. С. Рочас, Д. В. Денисов, К. О. Воропаев, И. О. Жумаева, В. М. Устинов, А. Ю. Егоров, В. Е. Бугров, “Исследование характеристик сверхрешетки InGaAs/InAlGaAs для вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 1300 nm”, ЖТФ, 91:12 (2021), 2008–2017
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf4847 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v91/i12/p2008
|
|