Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1990, том 60, выпуск 2, страницы 154–158 (Mi jtf3739)  
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Приборы и методы эксперимента

Релаксация энергетических распределений продуктов диссоциативной ионизации на поверхности

Н. М. Блашенков, Г. Я. Лаврентьев
PDF полного текста (740 kB) Список цитирования (1)
Аннотация: Методика понижения барьера Шоттки для десорбируемых о поверхности понов использована при измерении релаксации энергораспределения продуктов гетерогенной эндотермической реакции диссоциации. Оценено время обмена энергией между поверхностью адсорбированными органическим молекулами. Измерена эффективная температура энергораспределения в том случае, когда скорость диссоциации больше скорости обмена энергией.
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Н. М. Блашенков, Г. Я. Лаврентьев, “Релаксация энергетических распределений продуктов диссоциативной ионизации на поверхности”, ЖТФ, 60:2 (1990), 154–158
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BlaLav90}
\by Н.~М.~Блашенков, Г.~Я.~Лаврентьев
\paper Релаксация энергетических распределений продуктов диссоциативной
ионизации на~поверхности
\jour ЖТФ
\yr 1990
\vol 60
\issue 2
\pages 154--158
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf3739}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf3739
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v60/i2/p154
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024