Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1989, том 59, выпуск 8, страницы 131–134 (Mi jtf3468)  
Краткие сообщения

Влияние ультразвука на точечные дефекты в структурах Si$-$SiO$_{2}$

А. П. Здебский, Д. И. Кропман, М. К. Шейнкман
PDF полного текста (533 kB)
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. П. Здебский, Д. И. Кропман, М. К. Шейнкман, “Влияние ультразвука на точечные дефекты в структурах Si$-$SiO$_{2}$”, ЖТФ, 59:8 (1989), 131–134
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ZdeShe89}
\by А.~П.~Здебский, Д.~И.~Кропман, М.~К.~Шейнкман
\paper Влияние ультразвука на точечные дефекты в~структурах
Si$-$SiO$_{2}$
\jour ЖТФ
\yr 1989
\vol 59
\issue 8
\pages 131--134
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf3468}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf3468
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v59/i8/p131
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:47
    PDF полного текста:22
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024