Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1983, том 53, выпуск 9, страницы 1827–1829 (Mi jtf2550)  
Особенности исследования солнечных элементов в растровом оптическом микроскопе

С. А. Беляев, А. С. Даревский, В. С. Королев, В. Б. Митюхляев
PDF полного текста (2218 kB)
Аннотация: Рассмотрены два режима регистрации сигнала в растровом оптическом микроскопе: режим фотоэдс и режим фототока. Показано, что для объектов, имеющих большую собственную емкость, таких как солнечные элементы, более информативным является метод регистрации фототока. Описано устройство, позволяющее реализовать этот режим. Возможности метода проиллюстрированы на примере солнечного элемента.
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. А. Беляев, А. С. Даревский, В. С. Королев, В. Б. Митюхляев, “Особенности исследования солнечных элементов в растровом оптическом микроскопе”, ЖТФ, 53:9 (1983), 1827–1829
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{1}
\by С.~А.~Беляев, А.~С.~Даревский, В.~С.~Королев, В.~Б.~Митюхляев
\paper Особенности исследования солнечных элементов в~растровом оптическом
микроскопе
\jour ЖТФ
\yr 1983
\vol 53
\issue 9
\pages 1827--1829
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf2550}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf2550
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v53/i9/p1827
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024