Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1983, том 53, выпуск 7, страницы 1400–1402 (Mi jtf2457)  
Краткие сообщения

Вторично-ионная масс-спектрометрия кластерных ионов « примесь–матрица»

Г. М. Гурьянов, А. П. Коварский
PDF полного текста (490 kB)
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Г. М. Гурьянов, А. П. Коварский, “Вторично-ионная масс-спектрометрия кластерных ионов « примесь–матрица»”, ЖТФ, 53:7 (1983), 1400–1402
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{1}
\by Г.~М.~Гурьянов, А.~П.~Коварский
\paper Вторично-ионная масс-спектрометрия кластерных ионов
<< примесь--матрица>>
\jour ЖТФ
\yr 1983
\vol 53
\issue 7
\pages 1400--1402
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf2457}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf2457
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v53/i7/p1400
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024