Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1983, том 53, выпуск 3, страницы 605–608 (Mi jtf2267)  
Краткие сообщения

Учет влияния зарядового состояния ионов на сечения ионизации внутренних оболочек в атомных столкновениях

Д. П. Иванов, С. Н. Купцов, С. М. Сысоев, С. В. Ялышко
PDF полного текста (469 kB)
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. П. Иванов, С. Н. Купцов, С. М. Сысоев, С. В. Ялышко, “Учет влияния зарядового состояния ионов на сечения ионизации внутренних оболочек в атомных столкновениях”, ЖТФ, 53:3 (1983), 605–608
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{1}
\by Д.~П.~Иванов, С.~Н.~Купцов, С.~М.~Сысоев, С.~В.~Ялышко
\paper Учет влияния зарядового состояния ионов на сечения ионизации
внутренних оболочек в~атомных столкновениях
\jour ЖТФ
\yr 1983
\vol 53
\issue 3
\pages 605--608
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf2267}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf2267
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v53/i3/p605
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024