Оценка концентрации поглощающих неоднородностей и порогов оптического пробоя в объеме прозрачного диэлектрика

Порог оптического пробоя щелочно-галоидных кристаллов существенно ниже порога собственного пробоя. При превышении порога в 2$-$3 раза пробой сопровождается образованием большого числа микроразрушений. В работе приведены результаты анализа зависимости числа микроразрушений, образующихся в пределах каустики линзы, от плотности мощности излучения, что позволяет оценить концентрацию поглощающих неоднородностей и предсказать величину обусловленного ими порога пробоя. Сопоставление значении порогов, определенных предложенным и стандартным методами, свидетельствует об их удовлетворительном согласии. Оценки размеров неоднородностей, выполненные на основе результатов измерения коэффициентов поглощения исследованных образцов и концентрации неоднородностей, согласуются с данными электронно-микроскопических исследований.