|
Журнал технической физики, 1984, том 54, выпуск 3, страницы 558–564
(Mi jtf1708)
|
|
|
|
Квантовая электроника
Дисперсия изменения молекулярной рефракции и дифракционная
эффективность объемных голографических решеток в полимерах реоксан
А. Ф. Кавтрев, Е. Н. Бодунов, Г. И. Лашков
Аннотация:
Работа посвящена теоретическому и экспериментальному
исследованию спектральной зависимости в диапазоне 0.44$-$1.6 мкм
изменения молекулярной рефракции $\Delta n_{0}(\lambda)$ происходящего при
фотоокислении антраценовых соединений. Предложен простой экспериментальный
метод измерения $\Delta n_{0}(\lambda)$, основанный на анализе спектральной
зависимости дифракционной эффективности объемных фазовых решеток,
зарегистрированных в светочувствительной среде реоксан. Продемонстрировано
удовлетворительное совпадение измеренных величин $\Delta n_{0}(\lambda)$
и рассчитанных по формуле Крамерса–Кронинга. На основании полученных
результатов даны рекомендации по записи высокоэффективных голографических
элементов на материале реоксан.
Поступила в редакцию: 06.06.1983
Образец цитирования:
А. Ф. Кавтрев, Е. Н. Бодунов, Г. И. Лашков, “Дисперсия изменения молекулярной рефракции и дифракционная
эффективность объемных голографических решеток в полимерах реоксан”, ЖТФ, 54:3 (1984), 558–564
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf1708 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v54/i3/p558
|
|