Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1985, том 55, выпуск 9, страницы 1815–1816 (Mi jtf1436)  
Краткие сообщения

Влияние толщины образцов на пороги хрупкого разрушения полупроводниковых ковалентных кристаллов при облучении импульсными пучками электронов

А. П. Балашов, Л. Н. Когай, И. Я. Кравченко, C. Б. Селезнев, Е. Ф. Уваров
PDF полного текста (289 kB)
Поступила в редакцию: 10.01.1984
Исправленный вариант: 10.01.1985
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 539.3
Образец цитирования: А. П. Балашов, Л. Н. Когай, И. Я. Кравченко, C. Б. Селезнев, Е. Ф. Уваров, “Влияние толщины образцов на пороги хрупкого разрушения полупроводниковых ковалентных кристаллов при облучении импульсными пучками электронов”, ЖТФ, 55:9 (1985), 1815–1816
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BalKogKra85}
\by А.~П.~Балашов, Л.~Н.~Когай, И.~Я.~Кравченко, C.~Б.~Селезнев, Е.~Ф.~Уваров
\paper Влияние толщины образцов на пороги хрупкого разрушения
полупроводниковых ковалентных кристаллов при облучении импульсными пучками
электронов
\jour ЖТФ
\yr 1985
\vol 55
\issue 9
\pages 1815--1816
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf1436}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf1436
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v55/i9/p1815
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024