|
Журнал технической физики, 1986, том 56, выпуск 4, страницы 701–707
(Mi jtf134)
|
|
|
|
Квантовая электроника
Использование интерферометров на основе отражательных голограмм для
исследования локальных деформаций
В. О. Индисов, В. С. Писарев, В. П. Щепинов, В. В. Яковлев Московский инженерно-физический институт
Аннотация:
Для исследования деформированного состояния
локальных областей поверхности элементов конструкций предлагается
схема интерферометра на основе отражательных голограмм Ю.Н. Денисюка,
обеспечивающая устойчивые измерения трех компонент вектора перемещений.
Получены соотношения, связывающие величины погрешностей компонент перемещений
со значениями параметров оптической схемы, и указаны пути минимизации этих
погрешностей. Возможности рассмотренного подхода иллюстрируются
при определении деформации контура кругового выреза в цилиндрической
оболочке, нагруженной крутящим моментом.
Поступила в редакцию: 16.04.1985
Образец цитирования:
В. О. Индисов, В. С. Писарев, В. П. Щепинов, В. В. Яковлев, “Использование интерферометров на основе отражательных голограмм для
исследования локальных деформаций”, ЖТФ, 56:4 (1986), 701–707
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf134 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v56/i4/p701
|
|