Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 1985, том 55, выпуск 3, страницы 632–635 (Mi jtf1174)  
Краткие сообщения

Масс-спектрометр для анализа вторичных ионов

С. П. Карецкая, В. М. Кельман, Д. К. Даукеев, С. И. Касымов, А. Г. Мить, Н. Ю. Сайченко, Г. А. Шевелев

Институт ядерной физики АН КазССР, Алма-Ата
PDF полного текста (526 kB)
Поступила в редакцию: 21.02.1984
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 621.384.8
Образец цитирования: С. П. Карецкая, В. М. Кельман, Д. К. Даукеев, С. И. Касымов, А. Г. Мить, Н. Ю. Сайченко, Г. А. Шевелев, “Масс-спектрометр для анализа вторичных ионов”, ЖТФ, 55:3 (1985), 632–635
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KarKelDau85}
\by С.~П.~Карецкая, В.~М.~Кельман, Д.~К.~Даукеев, С.~И.~Касымов, А.~Г.~Мить, Н.~Ю.~Сайченко, Г.~А.~Шевелев
\paper Масс-спектрометр для анализа вторичных ионов
\jour ЖТФ
\yr 1985
\vol 55
\issue 3
\pages 632--635
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf1174}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf1174
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v55/i3/p632
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:43
    PDF полного текста:29
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024