|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies
[Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии]
Olga A. Maksimovaab, Sergey G. Ovchinnikovab, Nikolay N. Kosyrevb, Sergey A. Lyaschenkocb a Siberian Federal University, Svobodny, 79, Krasnoyarsk, 660041,
Russia
b Kirensky Institute of Physics, Federal Research Center KSC SB RAS,
Akademgorodok, 50/38, Krasnoyarsk, 660036, Russia
c Reshetnev Siberian State Aerospace University, Krasnoyarsky Rabochy, 31, Krasnoyarsk, 660037, Russia
Аннотация:
Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.
Ключевые слова:
магнито-оптическая эллипсометрия, эффект Керра, двухслойная модель, ферромагнетик, отражение, контроль роста.
Получена: 17.11.2016 Исправленный вариант: 16.01.2017 Принята: 02.02.2017
Образец цитирования:
Olga A. Maksimova, Sergey G. Ovchinnikov, Nikolay N. Kosyrev, Sergey A. Lyaschenko, “Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies”, Журн. СФУ. Сер. Матем. и физ., 10:2 (2017), 223–232
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jsfu543 https://www.mathnet.ru/rus/jsfu/v10/i2/p223
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 4166 | PDF полного текста: | 54 | Список литературы: | 27 |
|