Micromagnetic simulation of magnetization reversal processes in thin obliquely deposited films

Методом микромагнитного моделирования исследованы процессы перемагничивания в тонких наклонно-осажденных пленках. Тонкопленочные структуры для микромагнитного анализа были получены с помощью программы моделирования роста пленок, основанной на методе Монте-Карло. Из петель гистерезиса, полученных для сгенерированных пленок, были определены зависимости коэрцитивной силы и остаточной намагниченности от угла осаждения $\alpha$. Результаты исследований показали, что для пленок с $\alpha < 65^\circ$ перемагничивание осуществляется посредством когерентного вращения магнитных моментов, тогда как для образцов полученных при больших углах осаждения перемагничивание осуществляется через формирование сложных квазидоменных магнитных структур. Результаты моделирования хорошо согласуются с ранее опубликованными данными экспериментальных измерений.