Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖЭТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2022, том 115, выпуск 10, страницы 611–612
DOI: https://doi.org/10.31857/S1234567822100032 (Mi jetpl6670) 		 
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

ОПТИКА, ЛАЗЕРНАЯ ФИЗИКА

Enhancement of the basal-plane stacking fault emission in GaN planar nanowire microcavity

E. I. Girshovaa, G. Pozinab, A. V. Belonovskiia, M. I. Mitrofanovcd, I. V. Levitskiidc, G. V. Voznyuka, V. P. Evtikhievb, S. N. Rodincd, M. A. Kaliteevskiia

a ITMO University, 197101 St. Petersburg, Russia
b Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linköping University, S-581 83 Linköping, Sweden
c Ioffe Institute, 194021 St. Petersburg, Russia
d Submicron Heterostructures for Microelectronics, Research and Engineering Center, Russian Academy of Sciences, 194021 St. Petersburg, Russia
PDF полного текста (272 kB) Первая страница Список цитирования (1)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.31857/S1234567822100032
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 21-12-00304
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
The work has been supported by the Russian Science Foundation # 21-12-00304. The work is financially supported by Priority 2030 program.
Поступила в редакцию: 05.04.2022
Исправленный вариант: 12.04.2022
Принята в печать: 13.04.2022
Англоязычная версия:
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2022, Volume 115, Issue 10, Pages 574–580
DOI: https://doi.org/10.1134/S0021364022100605
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: E. I. Girshova, G. Pozina, A. V. Belonovskii, M. I. Mitrofanov, I. V. Levitskii, G. V. Voznyuk, V. P. Evtikhiev, S. N. Rodin, M. A. Kaliteevskii, “Enhancement of the basal-plane stacking fault emission in GaN planar nanowire microcavity”, Письма в ЖЭТФ, 115:10 (2022), 611–612; JETP Letters, 115:10 (2022), 574–580
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GirPozBel22}
\by E.~I.~Girshova, G.~Pozina, A.~V.~Belonovskii, M.~I.~Mitrofanov, I.~V.~Levitskii, G.~V.~Voznyuk, V.~P.~Evtikhiev, S.~N.~Rodin, M.~A.~Kaliteevskii
\paper Enhancement of the basal-plane stacking fault emission in GaN planar nanowire microcavity
\jour Письма в ЖЭТФ
\yr 2022
\vol 115
\issue 10
\pages 611--612
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jetpl6670}
\crossref{https://doi.org/10.31857/S1234567822100032}
\edn{https://elibrary.ru/dyimlt}
\transl
\jour JETP Letters
\yr 2022
\vol 115
\issue 10
\pages 574--580
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0021364022100605}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-85130194432}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl6670
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v115/i10/p611
    • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики Pis'ma v Zhurnal Иksperimental'noi i Teoreticheskoi Fiziki
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024