|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ
Электронная структура магнитных топологических изоляторов серии Mn(Bi$_{1-x}$Sb$_{x})_2$Te$_4$ при изменении концентрации атомов Sb
Д. А. Глазковаa, Д. А. Естюнинa, И. И. Климовскихab, Т. П. Макароваa, О. Е. Терещенкоcde, К. А. Кохefg, В. А. Голяшовecd, А. В. Королеваa, А. М. Шикинa a Санкт-Петербургский государственный университет, 198504 С.-Петербург, Россия
b Национальный исследовательский технологический институт МИСиС, 119049 Москва, Россия
c ЦКП “СКИФ”, Институт катализа им. Г. К. Борескова Сибирского отделения РАН, 630559 Кольцово, Россия
d Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, 630090 Новосибирск, Россия
e Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия
f Институт геологии и минералогии им. В. С. Соболева Сибирского отделения РАН, 630090 Новосибирск, Россия
g Кемеровский государственный университет, 650000 Кемерово, Россия
Аннотация:
Собственный магнитный топологический изолятор MnBi$_2$Te$_4$ представляет собой многообещающую платформу для реализации квантового аномального эффекта Холла при повышенных температурах и других уникальных топологических эффектов. Однако для этого запрещенная зона в точке Дирака должна располагаться на уровне Ферми. Одним из широко используемых способов сдвига точки Дирака в область уровня Ферми является частичное замещение атомов Bi атомами Sb. В данной работе представлены результаты исследований электронной структуры остовных уровней и валентной зоны для соединений Mn(Bi$_{1-x}$Sb$_x$)$_2$Te$_4$ при изменении концентрации $(x)$ атомов Sb (от $0$ до $1$). Показано, что с увеличением концентрации атомов Sb точка Дирака сдвигается в сторону уровня Ферми с локализацией на уровне Ферми при $x\approx0.3$. При этом наблюдается “жесткий” сдвиг валентной зоны, включая уровень Mn $3d$, без видимых изменений структуры валентной и зоны проводимости. Концентрационная зависимость сдвига точки Дирака аппроксимируется корневой функцией, что соответствует линейному возрастанию плотности носителей заряда.
Поступила в редакцию: 03.02.2022 Исправленный вариант: 03.02.2022 Принята в печать: 03.02.2022
Образец цитирования:
Д. А. Глазкова, Д. А. Естюнин, И. И. Климовских, Т. П. Макарова, О. Е. Терещенко, К. А. Кох, В. А. Голяшов, А. В. Королева, А. М. Шикин, “Электронная структура магнитных топологических изоляторов серии Mn(Bi$_{1-x}$Sb$_{x})_2$Te$_4$ при изменении концентрации атомов Sb”, Письма в ЖЭТФ, 115:5 (2022), 315–321; JETP Letters, 115:5 (2022), 286–291
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl6624 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v115/i5/p315
|
|