|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ
Электронная структура и свойства двумерного диоксида кремния
Т. А. Хачатурова, В. Г. Бутько, А. А. Гусев Донецкий физико-техничеcкий институт им. А. А. Галкина, 283114 Донецк, Украина
Аннотация:
В рамках теории функционала плотности методом проекционных присоединенных волн проведены исследования электронной структуры двумерного диоксида кремния. Результаты неэмпирических расчетов существенно уточняются в $GW$-приближении. Рассмотрены нанопленки толщиной от 0.35 до 1.76 нм с максимальным числом атомарных слоев, равным 30. Показано, что запрещенная зона существенно зависит от толщины двумерного нанокристалла и имеет три различных типа поведения. Данное явление обусловлено сдвигом уровня Ферми, определяемым соотношением атомов Si и O в элементарной ячейке.
Поступила в редакцию: 24.09.2021 Исправленный вариант: 18.11.2021 Принята в печать: 19.11.2021
Образец цитирования:
Т. А. Хачатурова, В. Г. Бутько, А. А. Гусев, “Электронная структура и свойства двумерного диоксида кремния”, Письма в ЖЭТФ, 115:1 (2022), 47–50; JETP Letters, 115:1 (2022), 41–44
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl6584 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v115/i1/p47
|
|