Оптимизация многослойных фотонных структур с помощью искусственных нейронных сетей для получения заданного оптического отклика

Предложен новый метод глубокого машинного обучения для задачи подбора параметров многослойной фотонной структуры по заданному оптическому спектру коэффициента отражения. Предложенный метод обучения основан на соединении искусственной нейронной сети для решения обратной задачи и аналитического метода матриц распространения. Такой подход позволяет добиться высокой точности работы сети. Показана возможность применения разработанного метода для дизайна структуры, выполняющей взятия производной по координате для падающего оптического сигнала.