О механизме генерации убегающих электронов после пробоя промежутка

Представлены данные, объясняющие генерацию убегающих электронов после пробоя промежутка с резко неоднородным распределением напряженности электрического поля. Используя специальную методику измерения тока смещения, вызванного появлением и движением стримера, осуществлена привязка осциллограмм напряжения и тока убегающих электронов друг к другу, а также к динамике формирования стримера, которая регистрировалась с помощью четырехканальной ICCD камеры. Показано, что первый пучок убегающих электронов генерируется в окрестности острийного катода в момент появления стримера. Второй пучок убегающих электронов генерируется в момент прихода на острийный катод обратной волны ионизации. Предполагается, что генерация второго пучка убегающих электронов происходит в катодном слое. Это подтверждается тем, что второй пучок убегающих электронов отсутствует в тех реализациях разряда, при которых наблюдается свечение катодного пятна до замыкания промежутка плазмой.