Влияние случайных квантовых закороток на одночастичный низкотемпературный ток в грязных SIN-контактах

Получена формула для одночастичного тока в “грязных” (малые концентрации одинаковых немагнитных примесей в I-слое) SIN-контактах (S – сверхпроводник, I – изолятор, N – нормальный металл) в области низких температур $0 \leqslant T \ll \Delta_{0}^{}$ и напряжений $0 \leqslant |eV| < \Delta_{0}^{}$, где $\Delta_{0}^{}$ – сверхпроводящая щель в S-береге при $T = 0$, $V$ – напряжение на контакте, $e$ – модуль заряда электрона. Показано, что присутствие случайных узкозонных квантовых закороток в грязном SIN-контакте приводит к значительному отклонению одночастичных вольт-амперных характеристик SIN-контакта в сторону уменьшения тока (недостаток тока) от рассчитанных для этого же контакта одночастичных вольт-амперных характеристик в рамках существующей теории, что может служить экспериментальных тестом на наличие таких закороток в контакте. Приведены численные оценки, показывающие возможность экспериментального проявления этого эффекта, предложена принципиальная схема эксперимента по его обнаружению.