|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ
Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии
А. А. Ширяевab, Д. А. Золотовc, Е. М. Супрунd, И. Г. Дьячковаc, С. А. Ивахненкоd, В. Е. Асадчиковc a Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии (ИГЕМ) РАН, 119017 Москва, Россия
b Институт физической химии и электрохимии им. А. Н. Фрумкина РАН, 119071 Москва, Россия
c Федеральный научно-исследовательский центр “Кристаллография и фотоника” РАН, 119333 Москва, Россия
d Институт сверхтвердых материалов им. В. Н. Бакуля НАН Украины, 04074 Киев, Украина
Аннотация:
Представлено дальнейшее развитие подхода к исследованию дефектов в совершенных кристаллах с алмазной решеткой на основе рентгеновской топографии в квазизапрещенном отражении 222. Для синтетических алмазов различных типов проведено сравнение пространственного распределения интенсивности рентгеновских отражений 111 и 222 с распределением точечных дефектов. Установлена перспективность использования рентгеновской топографии с использованием квазизапрещенного отражения 222 для исследования слабых напряжений в совершенных кристаллах.
Поступила в редакцию: 09.04.2020 Исправленный вариант: 10.04.2020 Принята в печать: 10.04.2020
Образец цитирования:
А. А. Ширяев, Д. А. Золотов, Е. М. Супрун, И. Г. Дьячкова, С. А. Ивахненко, В. Е. Асадчиков, “Вклад структурных дефектов в интенсивность квазизапрещенных рентгеновских отражений алмаза: сравнение данных рентгеновской топографии и инфракрасной спектроскопии”, Письма в ЖЭТФ, 111:9 (2020), 597–601; JETP Letters, 111:9 (2020), 489–493
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl6162 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v111/i9/p597
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 137 | PDF полного текста: | 18 | Список литературы: | 32 | Первая страница: | 8 |
|