|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
РАЗНОЕ
Мессбауэровский метод измерения субангстремных смещений тонких пленок
P. H. Шахмуратовab, Ф. Г. Вагизовb a Казанский физико-технический институт, Федеральный исследовательский центр,
Казанский Научный Центр РАН, 420029 Казань, Россия
b Казанский федеральный университет, 420008 Казань, Россия
Аннотация:
Приведены первые результаты измерений распределения амплитуды колебаний тонкой пластины вдоль ее поверхности с использованием мессбауэровской спектроскопии. Для измерений применялось гамма-излучение $^{57}$Co с длиной волны $86$ пм ($0.86$ Å). Фольга нержавеющей стали толщиной $25$ мкм была использована в качестве исследуемого образца. Колебания образца вдоль направления распространения гамма-излучения возбуждались с помощью полимерного пьезопреобразователя. При умеренных значениях подаваемого напряжения измеренная амплитуда колебаний не превышала $50$ пм. Точность измерений распределения амплитуды колебаний фольги вдоль ее поверхности составила $3 \div 6$ пм. Этот метод предлагается использовать для создания стандартов механических смещений, которые могут быть применены для калибровки туннельных микроскопов.
Поступила в редакцию: 18.10.2018 Исправленный вариант: 30.10.2018
Образец цитирования:
P. H. Шахмуратов, Ф. Г. Вагизов, “Мессбауэровский метод измерения субангстремных смещений тонких пленок”, Письма в ЖЭТФ, 108:11 (2018), 785–789; JETP Letters, 108:11 (2018), 772–776
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl5770 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v108/i11/p785
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 135 | PDF полного текста: | 23 | Список литературы: | 28 | Первая страница: | 2 |
|