|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ
Туннельная интерферометрия и измерение толщины ультратонких металлических пленок Pb(111)
С. С. Уставщиковa, А. В. Путиловa, А. Ю. Аладышкинba a Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия
b Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия
Аннотация:
Методами низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии изучены спектры дифференциальной туннельной проводимости для ультратонких пленок свинца, выращенных на монокристаллах кремния $\mathrm{Si}(111)7\times7$, с толщиной от $9$ до $50$ монослоев свинца. Для таких систем характерно существование локальных максимумов туннельной проводимости, причем положение максимумов дифференциальной проводимости определяется спектром размерно-квантованных состояний электронов в металлическом слое и, следовательно, локальной толщиной слоя. Показано, что особенности микроструктуры подложек, такие как ступени моноатомной высоты, дефекты структуры и инородные включения, покрытые слоем свинца, могут быть визуализированы методом модуляционной сканирующей туннельной спектроскопии.
Поступила в редакцию: 05.09.2017 Исправленный вариант: 18.09.2017
Образец цитирования:
С. С. Уставщиков, А. В. Путилов, А. Ю. Аладышкин, “Туннельная интерферометрия и измерение толщины ультратонких металлических пленок Pb(111)”, Письма в ЖЭТФ, 106:8 (2017), 476–482; JETP Letters, 106:8 (2017), 491–497
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl5392 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v106/i8/p476
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 170 | PDF полного текста: | 21 | Список литературы: | 38 | Первая страница: | 7 |
|