|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
ОПТИКА, ЛАЗЕРНАЯ ФИЗИКА
Возможности двухфотонной конфокальной микроскопии для томографии времени жизни неравновесных носителей тока в полупроводниковых материалах
В. П. Калинушкин, О. В. Уваров Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, 119991 Москва, Россия
Аннотация:
На примере кристаллов ZnSe рассмотрены перспективы использования двухфотонной конфокальной микроскопии для создания “плоских карт” времен жизни неравновесных носителей тока в полупроводниковых материалах и для исследования других прямозонных полупроводников и структур на их основе. Показана возможность формирования таких карт с шагом по глубине и пространственным разрешением по плоскости в несколько мкм до расстояний от поверхности до 1 мм. Сообщается о наблюдении с помощью этой методики неоднородностей в кристаллах и исследовании их структуры и люминесцентных характеристик.
Поступила в редакцию: 05.09.2016 Исправленный вариант: 19.10.2016
Образец цитирования:
В. П. Калинушкин, О. В. Уваров, “Возможности двухфотонной конфокальной микроскопии для томографии времени жизни неравновесных носителей тока в полупроводниковых материалах”, Письма в ЖЭТФ, 104:11 (2016), 774–779; JETP Letters, 104:11 (2016), 754–758
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl5126 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v104/i11/p774
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 160 | PDF полного текста: | 30 | Список литературы: | 54 | Первая страница: | 12 |
|