Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖЭТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2009, том 90, выпуск 2, страницы 105–110 (Mi jetpl477)  
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

ПЛАЗМА, ГАЗЫ

Макроскопический эффект тени электромагнитного поля релятивистских электронов

Г. А. Науменко, А. П. Потылицын, Л. Г. Сухих, Ю. А. Попов, М. В. Шевелёв

Научно-исследовательский институт ядерной физики, Томский политехнический университет
PDF полного текста (994 kB) Список цитирования (3)
Список литературы:
PDF
HTML
Аннотация: Экспериментально исследован эффект “зоны формирования” (эффект “тени”) по изменению характеристик когерентного дифракционного излучения при прохождении релятивистского электронного сгустка вблизи двух проводящих мишеней в зависимости от расстояния между ними. В экспериментах исследовалось влияние эффекта тени за поглощающим и проводящим экраном на интенсивность дифракционного излучения. В обоих случаях наблюдается одинаковое уменьшение интенсивности дифракционного излучения практически до нуля при уменьшении расстояния между источником тени и мишенью. Полученные результаты позволяют сделать вывод о неравнозначности двух трактовок наблюдаемого эффекта: “зоны формирования” и “эффекта тени”.
Поступила в редакцию: 21.05.2009
Исправленный вариант: 05.06.2009
Англоязычная версия:
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2009, Volume 90, Issue 2, Pages 96–101
DOI: https://doi.org/10.1134/S0021364009140033
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 41.60.-m, 41.75.Ht
Образец цитирования: Г. А. Науменко, А. П. Потылицын, Л. Г. Сухих, Ю. А. Попов, М. В. Шевелёв, “Макроскопический эффект тени электромагнитного поля релятивистских электронов”, Письма в ЖЭТФ, 90:2 (2009), 105–110; JETP Letters, 90:2 (2009), 96–101
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NauPotSuk09}
\by Г.~А.~Науменко, А.~П.~Потылицын, Л.~Г.~Сухих, Ю.~А.~Попов, М.~В.~Шевелёв
\paper Макроскопический эффект тени электромагнитного поля релятивистских электронов
\jour Письма в ЖЭТФ
\yr 2009
\vol 90
\issue 2
\pages 105--110
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jetpl477}
\transl
\jour JETP Letters
\yr 2009
\vol 90
\issue 2
\pages 96--101
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0021364009140033}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000269917700003}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-76449092057}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl477
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v90/i2/p105
    • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики Pis'ma v Zhurnal Иksperimental'noi i Teoreticheskoi Fiziki
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:207
    PDF полного текста:89
    Список литературы:48
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024