|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ
Спектры инфракрасного отражения и нарушенного полного внутреннего отражения топологического изолятора Bi$_2$Se$_3$
Н. Н. Новиковаa, В. А. Яковлевa, И. В. Кучеренкоb a Институт спектроскопии РАН, 142190 Троицк, Россия
b Физический институт РАН им. Лебедева, 119991 Москва, Россия
Аннотация:
Измерены спектры инфракрасного отражения и нарушенного полного внутреннего отражения пленки топологического изолятора (111)Si/Bi$_2$Se$_3$. Методом дисперсионного анализа спектров отражения получены параметры плазмонов и фононов в приповерхностных слоях у границы раздела Si – пленка. Обнаружено, что концентрация носителей у границы раздела значительно превышает концентрацию в объеме пленки. Определены дисперсионные зависимости поверхностных поляритонов и волноводных мод.
Поступила в редакцию: 07.07.2015
Образец цитирования:
Н. Н. Новикова, В. А. Яковлев, И. В. Кучеренко, “Спектры инфракрасного отражения и нарушенного полного внутреннего отражения топологического изолятора Bi$_2$Se$_3$”, Письма в ЖЭТФ, 102:4 (2015), 253–256; JETP Letters, 102:4 (2015), 226–229
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl4708 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v102/i4/p253
|
|