Критический ток SF–NFS джозефсоновских структур

Теоретически исследованы свойства SF–NFS-сэндвичей, представляющих собой два сверхпроводящих (S) электрода, разделенных областью слабой связи, состоящей из расположенной на нижнем S-электроде ступеньки из нормального (N) металла толщины $d_{\mathrm{N}}$ и нанесенного на нее и оставшуюся свободную поверхность нижнего электрода ферромагнитного (F) слоя толщины $d_{\mathrm{F}}$. В рамках линеаризованных квазиклассических уравнений Узаделя показано, что двумерная задача в области слабой связи может быть сведена к двум одномерным проблемам в ее SFS- и SNFS-сегментах. Рассчитаны возникающие в них пространственные распределения плотности критического тока $J_c$ как функции толщины слоя $d_{\mathrm{F}}$. Определены зависимости критического тока $I_c$ исследуемой структуры от величины вектора намагниченности F-слоя $\mathbf{M}$ при различных его направлениях в плоскости контакта. Показано, что их форма существенно зависит как от ориентации $\mathbf{M}$, так и от пространственного распределения $J_c$.