Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖЭТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2014, том 100, выпуск 11, страницы 807–810
DOI: https://doi.org/10.7868/S0370274X14230052
(Mi jetpl4483)
 

Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)

ПЛАЗМА, ГИДРО- И ГАЗОДИНАМИКА

Вольт-амперная характеристика контакта плазмы с электродом с тонкой диэлектрической пленкой на поверхности

К. М. Гуторов, И. В. Визгалов, И. А. Сорокин, Ф. С. Подоляко

Московский инженерно-физический институт (Национальный исследовательский ядерный университет)
Список литературы:
Аннотация: Построена модель протекания тока в контакте плазмы с электродом с тонкой диэлектрической пленкой на поверхности, позволяющая описывать наблюдаемые особенности вольт-амперной характеристики (ВАХ) такого контакта: участок с малым током вблизи плавающего потенциала, соответствующий перезарядке пленки, и участок повышенного тока, где работает механизм полевой эмиссии электронов сквозь пленку в плазму, что приводит к $N$-образной форме ВАХ. Такие ВАХ наблюдаются у электродов из W, Al, Ta с пленками собственного оксида и из нержавеющей стали с пленкой оксида кремния в пучково-плазменном разряде на водороде. Модель основана на расчете равновесного потенциала обращенной к плазме поверхности пленки для области отрицательного смещения электрода относительно потенциала плазмы. В балансе учитываются токи ионов и электронов из плазмы, токи вторичной эмиссии и ток полевой эмиссии электронов из электрода в плазму сквозь диэлектрик. Рассчитанное в рамках модели напряжение перезарядки пленки точно соответствует экспериментальным данным. Это дает возможность определять толщину слоя диэлектрика на поверхности электрода по его ВАХ.
Поступила в редакцию: 30.09.2014
Исправленный вариант: 06.11.2014
Англоязычная версия:
Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2014, Volume 100, Issue 11, Pages 708–711
DOI: https://doi.org/10.1134/S0021364014230064
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: К. М. Гуторов, И. В. Визгалов, И. А. Сорокин, Ф. С. Подоляко, “Вольт-амперная характеристика контакта плазмы с электродом с тонкой диэлектрической пленкой на поверхности”, Письма в ЖЭТФ, 100:11 (2014), 807–810; JETP Letters, 100:11 (2014), 708–711
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GutVizSor14}
\by К.~М.~Гуторов, И.~В.~Визгалов, И.~А.~Сорокин, Ф.~С.~Подоляко
\paper Вольт-амперная характеристика контакта плазмы с электродом с
тонкой диэлектрической пленкой на поверхности
\jour Письма в ЖЭТФ
\yr 2014
\vol 100
\issue 11
\pages 807--810
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jetpl4483}
\crossref{https://doi.org/10.7868/S0370274X14230052}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=22996268}
\transl
\jour JETP Letters
\yr 2014
\vol 100
\issue 11
\pages 708--711
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0021364014230064}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000350023100005}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=24010962}
\scopus{https://www.scopus.com/record/display.url?origin=inward&eid=2-s2.0-84923852000}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl4483
  • https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v100/i11/p807
  • Эта публикация цитируется в следующих 8 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики Pis'ma v Zhurnal Иksperimental'noi i Teoreticheskoi Fiziki
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024