|
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2001, том 73, выпуск 1, страницы 17–20
(Mi jetpl4281)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
КОНДЕНСИРОВАННЫЕ СРЕДЫ
Фазовый состав пленок системы Ti-С, полученных при технологических условиях алмазообразования и содержании углерода свыше $50$ ат.$\%$
В. И. Перекрестов, А. В. Павлов Сумский государственный университет
Аннотация:
Методом дифракции электронов изучен фазовый состав пленок системы Ti-C (концентрация C изменялась от $50$ до $100$ ат.$\%$), полученных методом ионного распыления C и Ti с последующим осаждением паров, которые обладали предельно низким пересыщением. При конденсации паров в соответствующих пропорциях установлено образование соединения TiC$_2$, имеющее ОЦК решетку с периодом $0.294$ нм. Увеличение содержания C свыше $64$ ат.$\%$ сопровождается переходом к алмазной фазе.
Поступила в редакцию: 28.08.2000 Исправленный вариант: 09.11.2000
Образец цитирования:
В. И. Перекрестов, А. В. Павлов, “Фазовый состав пленок системы Ti-С, полученных при технологических условиях алмазообразования и содержании углерода свыше $50$ ат.$\%$”, Письма в ЖЭТФ, 73:1 (2001), 17–20; JETP Letters, 73:1 (2001), 13–16
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl4281 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v73/i1/p17
|
|