|
Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2001, том 74, выпуск 10, страницы 560–564
(Mi jetpl4255)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
КОНДЕНСИРОВАННЫЕ СРЕДЫ
Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия в роли метода стоячих рентгеновских волн
А. М. Афанасьевa, М. А. Чуевa, Э. М. Пашаевb, С. Н. Якунинb, Дж. Хорватc a Физико-технологический институт РАН, г. Москва
b Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, г. Москва
c Научно-исследовательский институт технической физики и материаловедения
Аннотация:
Показано, что в совершенных многослойных системах можно с помощью одного только метода двухкристальной рентгеновской дифрактометрии фиксировать смещения атомных слоев (вызываемых инородными слоями), сравнимые и меньше межатомного расстояния. Ранее считалось, что фиксация таких малых смещений доступна лишь особым методам, типа метода стоячих рентгеновских волн. Измерения проводились на системе GaAs/InAs/GaAs, где инородным слоем являлся слой InAs, толщина которого не превышала 3 монослоев, а его структура имела островковый характер и по существу представляла собой набор отдельных квантовых точек. Проведенные измерения позволили определить смещение верхнего слоя GaAs по отношению к буферу GaAs с точностью менее $0.1$ толщины атомного слоя.
Поступила в редакцию: 25.10.2001
Образец цитирования:
А. М. Афанасьев, М. А. Чуев, Э. М. Пашаев, С. Н. Якунин, Дж. Хорват, “Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия в роли метода стоячих рентгеновских волн”, Письма в ЖЭТФ, 74:10 (2001), 560–564; JETP Letters, 74:10 (2001), 498–501
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl4255 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v74/i10/p560
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 176 | PDF полного текста: | 75 | Список литературы: | 1 |
|