|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
МИНИОБЗОРЫ (ИТОГИ ПРОЕКТОВ РФФИ)
Визуализация электронных орбиталей в сканирующей туннельной
микроскопии
А. Н. Чайкаab a Институт физики твердого тела РАН
b Trinity College Dublin
Аннотация:
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) является одной из основных
методик прямой визуализации электронной структуры поверхности и химического
анализа многокомпонентных поверхностей на атомном уровне. В обзоре
представлены результаты, демонстрирующие роль орбитальной структуры острия и
взаимодействия атомов зонда и поверхности в формировании СТМ-изображений с
пикометровым пространственным разрешением. Показана возможность создания
зондов с известной структурой острия и селективной визуализации отдельных
электронных орбиталей в СТМ-экспериментах с контролируемыми величиной
туннельного промежутка и структурой зонда.
Поступила в редакцию: 05.05.2014
Образец цитирования:
А. Н. Чайка, “Визуализация электронных орбиталей в сканирующей туннельной
микроскопии”, Письма в ЖЭТФ, 99:12 (2014), 843–855; JETP Letters, 99:12 (2014), 731–741
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jetpl3766 https://www.mathnet.ru/rus/jetpl/v99/i12/p843
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 373 | PDF полного текста: | 195 | Список литературы: | 42 | Первая страница: | 32 |
|